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Artikel-Nr. 9325625


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Herausgeber: 
  • Stephen J Pennycook
  • Peter D Nellist
  • Scanning Transmission Electron Microscopy: Imaging and Analysis 
     

    (Buch)
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    Übersicht

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    Lieferstatus:   i.d.R. innert 14-24 Tagen versandfertig
    Veröffentlichung:  März 2011  
    Genre:  Naturwissensch., Medizin, Technik 
     
    Arbeitsstoff / Biowissenschaften, allgemein / Chemie / Elektronische Geräte und Materialien / Experiment / Forschung (naturwissenschaftlich) / Massenspektrometrie - Spektrometrie / Material / Materialprüfung / Nanotechnologie / Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik) / Spektroskopie / Technologie / Nanotechnologie / Versuch / Werkstoff / Werkstoffprüfung / Wissenschaftliche Ausstattung, Experimente und Techniken
    ISBN:  9781441971999 
    EAN-Code: 
    9781441971999 
    Verlag:  Springer New York 
    Einband:  Gebunden  
    Sprache:  English  
    Dimensionen:  H 260 mm / B 183 mm / D 47 mm 
    Gewicht:  1624 gr 
    Seiten:  762 
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    Inhalt:
    Scanning transmission electron microscopy has become a mainstream technique for imaging and analysis at atomic resolution and sensitivity, and the editors of this book are widely credited with bringing the field to its present popularity. Scanning Transmission Electron Microscopy: Imaging and Analysis provides a comprehensive explanation of the theory and practice of STEM from introductory to advanced levels, covering the history of the field, the instrument, image formation and scattering theory, as well as practical aspects of imaging and analysis. The authors present examples of the use of combined imaging and spectroscopy for solving materials problems in a variety of fields, including condensed matter physics, materials science, catalysis, and nanoscience. Therefore this is a comprehensive reference for those working in applied fields wishing to use the technique, for graduate students learning microscopy for the first time, and for specialists in other fields of microscopy.
      



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