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Autor(en): 
  • Hiroyasu Saka
  • Practical Electron Microscopy of Lattice Defects 
     

    (Buch)
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    Übersicht

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    Lieferstatus:   i.d.R. innert 7-14 Tagen versandfertig
    Veröffentlichung:  April 2021  
    Genre:  Naturwissensch., Medizin, Technik 
    ISBN:  9789811234699 
    EAN-Code: 
    9789811234699 
    Verlag:  World Scientific 
    Einband:  Gebunden  
    Sprache:  English  
    Dimensionen:  H 235 mm / B 157 mm / D 21 mm 
    Gewicht:  602 gr 
    Seiten:  310 
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    Inhalt:
    This unique reference text provides those who are studying crystal lattice defects using a transmission electron microscope (TEM) with a basic knowledge of transmission electron microscopy. As it has been written for beginners, the principles of both transmission electron microscopy and crystallography have been clearly and simply explained, with the use of many figures and photographs to aid understanding. Mathematics is avoided where possible, and problems and exercises are amply provided.

      



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