SFr. 236.00
€ 254.88
BTC 0.0044
LTC 4.437
ETH 0.1088


bestellen

Artikel-Nr. 17190453


Diesen Artikel in meine
Wunschliste
Diesen Artikel
weiterempfehlen
Diesen Preis
beobachten

Weitersagen:


Herausgeber: 
  • Roland Wiesendanger
  • Ernst Meyer
  • Seizo Morita
  • Franz J. Giessibl
  • Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 3 
     

    (Buch)
    Dieser Artikel gilt, aufgrund seiner Grösse, beim Versand als 3 Artikel!


    Übersicht

    Auf mobile öffnen
     
    Lieferstatus:   i.d.R. innert 14-24 Tagen versandfertig
    Veröffentlichung:  Juni 2015  
    Genre:  Naturwissensch., Medizin, Technik 
    ISBN:  9783319155876 
    EAN-Code: 
    9783319155876 
    Verlag:  Springer International Publishing 
    Einband:  Gebunden  
    Sprache:  English  
    Serie:  NanoScience and Technology  
    Dimensionen:  H 241 mm / B 160 mm / D 35 mm 
    Gewicht:  986 gr 
    Seiten:  552 
    Zus. Info:  HC runder Rücken kaschiert 
    Bewertung: Titel bewerten / Meinung schreiben
    Inhalt:
    This book presents the latest developments in noncontact atomic force microscopy. It deals with the following outstanding functions and applications that have been obtained with atomic resolution after the publication of volume 2: (1) Pauli repulsive force imaging of molecular structure, (2) Applications of force spectroscopy and force mapping with atomic resolution, (3) Applications of tuning forks, (4) Applications of atomic/molecular manipulation, (5) Applications of magnetic exchange force microscopy, (6) Applications of atomic and molecular imaging in liquids, (7) Applications of combined AFM/STM with atomic resolution, and (8) New technologies in dynamic force microscopy. These results and technologies are now expanding the capacity of the NC-AFM with imaging functions on an atomic scale toward making them characterization and manipulation tools of individual atoms/molecules and nanostructures, with outstanding capability at the level of molecular, atomic, and subatomic resolution. Since the publication of vol. 2 of the book Noncontact Atomic Force Microscopy in 2009 the noncontact atomic force microscope, which can image even insulators with atomic resolution, has achieved remarkable progress. The NC-AFM is now becoming crucial for nanoscience and nanotechnology.

      



    Wird aktuell angeschaut...
     

    Zurück zur letzten Ansicht


    AGB | Datenschutzerklärung | Mein Konto | Impressum | Partnerprogramm
    Newsletter | 1Advd.ch RSS News-Feed Newsfeed | 1Advd.ch Facebook-Page Facebook | 1Advd.ch Twitter-Page Twitter
    Forbidden Planet AG © 1999-2024
    Alle Angaben ohne Gewähr
     
    SUCHEN

     
     Kategorien
    Im Sortiment stöbern
    Genres
    Hörbücher
    Aktionen
     Infos
    Mein Konto
    Warenkorb
    Meine Wunschliste
     Kundenservice
    Recherchedienst
    Fragen / AGB / Kontakt
    Partnerprogramm
    Impressum
    © by Forbidden Planet AG 1999-2024