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Autor(en): 
  • John M. Rodenburg
  • Electron Microscopy and Analysis 1997, Proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group Conference, University of Cambri 
     

    (Buch)
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    Übersicht

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    Lieferstatus:   Auf Bestellung (Lieferzeit unbekannt)
    Veröffentlichung:  1997  
    Genre:  Naturwissensch., Medizin, Technik 
    ISBN:  9780750304412 
    EAN-Code: 
    9780750304412 
    Verlag:  Taylor and Francis 
    Einband:  Gebunden  
    Sprache:  English  
    Dimensionen:  H 234 mm / B 156 mm / D 38 mm 
    Gewicht:  1338 gr 
    Seiten:  708 
    Illustration:  Farb., s/w. Abb. 
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    Inhalt:
    Includes papers on the early history of electron microscopy, the development of the scanning electron microscope at Cambridge, electron energy loss spectroscopy, imaging methods, and the future of electron microscopy. This book also discusses electron imaging, electron energy-loss and x-ray analysis and scanning probe.
      



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